我的位置：首页 > 物贸知识 > 光栅尺(运用在 精密测量设备上 ,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
光栅尺(运用在 精密测量设备上 ,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
光栅尺(运用在精密测量设备上
用来精密计算测量物体的位移
根据摩尔条纹原理
通过光电转换
以数字方式表示线性位移量
40uM栅距
分辨率0.1uM
输出长度位置尺寸
品牌:CarlZeiss)
光栅尺/用于光学测量
光栅尺/结合光学原理测量两个物体相对位置/MORISEIKI
Y轴磁栅尺(光栅尺)
光栅尺
圆光栅尺
位移测量系统
光栅尺-A2
OSD牌光栅尺
光栅尺THEGRATINGRULER
线性光栅尺
光栅尺测量装置/光栅尺
测量光栅尺
光栅尺测量装置(光栅尺)
光栅测量装置(光栅尺)
光栅测量装置/光栅尺
光栅尺位移传感器
光栅尺(光栅测量装置)
光栅测量装置:光栅尺
光栅尺/光栅测量装置
光栅尺测量工具
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上
品牌CYMATIX
通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动
传送到光栅尺上
测量出电机运动的线性位移量
检测对象是电机机械运动位移量
无测量结果显示)
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上
品牌APPLIEDMATERIALS
通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动
传送到光栅尺上
测量出电机运动的线性位移量
检测对象是电机机械运动位移量
无测量结果显示)
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上
品牌APPLIEDMATERIALS
通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动
传送到光栅尺上
测量同电机运动的线性位移量
检测对象是电机机械运动位移量
无测量结果显示)
线性位移测量仪
光栅测量装置用光栅尺
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上
品牌LSMECAPION
通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动
传送到光栅尺上
测量出电机运动的线性位移量
检测对象是电机机械运动位移量
无测量结果显示)
光栅位移测量装置（旧）
光栅尺测量装置（光栅盘部分）
线性位移测量(用于制造半导体器件设备上.品牌APPLIED
光栅尺
光栅测量尺
坐标测量机光栅尺
线性光栅尺/测贴片机移动位置用
光栅尺(利用光符表示数据)
数字测量尺(光栅测量装置)
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三坐标测量机光栅尺
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌RENISH
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光栅测量装置(含光栅尺和读数头)
坐标测量机用光栅尺
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上
光栅尺(RSF.光学原理测量长度和直线定位用.无结果显示
光栅尺Encoder
光学光栅尺
光栅尺encoder
光栅尺套件
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光栅系统（栅尺）
光栅系统(栅尺)
光栅尺.GRATINGRULER
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光栅尺（成套散件）
光栅尺（measuringscale）
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光栅尺EncoderHeidenhain
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光栅测量尺（成套散件）
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光栅尺(成套散件)
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